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Rohde & Schwarz

R&S®FSWP 系列相位雜訊與 VCO 測試儀 (1 MHz ~ 56 GHz)

R&S®FSWP Series Phase Noise Analyzer and VCO Tester (1 MHz ~ 56 GHz)

R&S®FSWP 相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀,頻率高達 56 GHz,運用交互關聯技術,高速量測高穩定振盪器、脈衝訊號與殘餘相位雜訊,單機整合頻譜分析功能。

R&S®FSWP 相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀



對訊號源與元件進行高階分析



R&S®FSWP 相位雜訊分析儀 (phase noise analyzer) 與 VCO 測試儀 憑藉其極低雜訊的內部訊號源交互關聯 (cross-correlation) 技術,具備極高的量測靈敏度,該機種能在短短數秒內量測高穩定訊號源的相位雜訊振幅雜訊,例如:雷達應用 (radar applications) 中所使用的訊號源;此外,該機種還提供脈衝訊號量測 (pulsed signal measurements)殘餘相位雜訊 (residual phase noise)(包含脈衝訊號)的特性分析 (characterization),以及整合式高階訊號與頻譜分析等額外選配項目,使 R&S®FSWP 成為一款功能獨特的測試儀器。


關鍵特性


  • 透過交互關聯 (Cross correlation) 技術,能以高靈敏度平行量測振幅雜訊相位雜訊,即使是脈衝訊號也同樣適用

  • 頻率範圍1 MHz 至 56 GHz,搭配外部混頻器可擴展至 325 GHz

  • 內建訊號源可用於量測殘餘相位雜訊,頻率高達 54 GHz,並同樣支援脈衝訊號

  • 支援外部 LO(本地振盪器) 輸入,可用於絕對 (absolute) 或殘餘 (residual) 相位雜訊量測,頻率高達 56 GHz

  • 內建 SCPI 記錄器,可簡化程式碼的產生流程


特點與優勢



最快的量測速度


節省時間並倍增量測產量

R&S®FSWP 的內部訊號源能以最少次數的交互關聯量測 DROs(介電質振盪器) 與 OCXOs(恆溫控制石英振盪器) 等高靈敏度振盪器,大幅節省寶貴時間,R&S®FSWP 相位雜訊分析儀增添了硬體加速訊號處理功能,可實現即時相位雜訊量測縮短量測時間是關鍵所在,因為它能加快從開發到製造的流程,同時提高生產產量


相位�雜訊量測:使用交互關聯技術量測高階 OCXO 的相位。
相位雜訊量測:使用交互關聯技術量測高階 OCXO 的相位。


無可比擬的靈敏度


實現相位與振幅雜訊的最高量測靈敏度

R&S®FSWP 的內部本地振盪器 (local oscillator),其相位雜訊效能超越市面上幾乎所有的訊號產生器,歸功於內建的低雜訊分析儀訊號源,僅需少數幾次關聯運算即可量測高品質振盪器,這得以實現最快速的量測時間。


相位雜訊與靈敏度:量測結果可顯示於獨立視窗,或整合在單一視窗中。
相位雜訊與靈敏度:量測結果可顯示於獨立視窗,或整合在單一視窗中。


最高的靈活性


單機整合高階相位雜訊分析儀、訊號分析儀與頻譜分析儀

使用者可在不同的量測通道中檢視頻譜並解調訊號,以量測 EVM(錯誤向量幅度) 或脈衝特性,對於自動化測試系統的設計者而言,他們無需額外採購頻譜分析儀或向量訊號分析儀,進而節省了空間與成本,R&S®FSWP 是一款具未來擴充性的投資,它建構於高階 R&S®FSW 平台之上,具備獨特的 RF(射頻) 效能與高靈敏度。


R&S®FSWP 功能全方位:向量訊號分析、脈衝訊號分析、高次諧波量測、高靈敏度相位雜訊量測等。
R&S®FSWP 功能全方位:向量訊號分析、脈衝訊號分析、高次諧波量測、高靈敏度相位雜訊量測等。


脈衝訊號的相位雜訊


輕鬆分析脈衝訊號源

量測 雷達應用中所使用脈衝訊號源 (pulsed sources) 的相位雜訊從未如此簡單,R&S®FSWP 能擷取訊號並即時計算所有脈衝參數,該機種提供交互關聯技術執行相位雜訊測試,並自動決定脈衝訊號源量測所需的觸發 (trigger) / 閘控 (gating) 參數,相較於其他方法,閘控 (Gating) 功能使 R&S®FSWP 在脈衝相位雜訊量測上能實現更大的動態範圍


脈衝訊號分析:在時域 (time domain) 自動量測��脈衝參數,並在頻域 (frequency domain) 量測相位雜訊。
脈衝訊號分析:在時域 (time domain) 自動量測脈衝參數,並在頻域 (frequency domain) 量測相位雜訊。


殘餘/附加相位雜訊量測


量測脈衝與 CW(連續波)訊號的殘餘 PN(相位雜訊)

對於高階雷達應用而言,了解個別元件(例如放大器 (amplifiers))為訊號路徑帶來的附加相位雜訊 (additional phase noise) 至關重要,因為這些雜訊會影響脈衝間 (pulse-to-pulse) 的相位穩定性,元件必須在真實條件下使用脈衝訊號進行測試,R&S®FSWP 具備內部訊號源,可用於量測殘餘相位雜訊脈衝間相位穩定性,同時也提供額外的輸入以連接其他外部訊號源。


脈衝間相位穩定性:顯示多個叢發 (bursts) 訊號的脈衝間相位穩定性 3D 繪圖。
脈衝間相位穩定性:顯示多個叢發 (bursts) 訊號的脈衝間相位穩定性 3D 繪圖。


VCO 特性分析輕鬆實現


自動量測 VCO 參數

R&S®FSWP 配備極低雜訊的內部 DC(直流)訊號源,可供應控制 VCO(壓控振盪器),R&S®FSWP 不僅能量測****基本電壓 (fundamental voltage),還能量測 VCO 高次諧波 (harmonics) 相對於調諧電壓 (tuning voltage) 的功率,該機種亦可顯示在不同偏移 fréquence (offset frequencies) 下,相對於調諧電壓相位雜訊


VCO 量測結果:頻率、輸出功率、調諧斜率 (tuning slope) 和電流消耗相對於調諧電壓的關係圖。
VCO 量測結果:頻率、輸出功率、調諧斜率 (tuning slope) 和電流消耗相對於調諧電壓的關係圖。


暫態分析


在時域中進行頻率與相位量測

R&S®FSWP 提供高達 8 GHz 的頻寬,用於分析頻率相位特性隨時間變化的關係,R&S®FSWP 也提供低至 40 MHz 的窄頻分析 (narrowband analysis) 功能,以詳細檢視 PLLs(相位鎖定迴路) 的暫態響應 (transient response)


暫態分析:合成器頻率穩定過程的持續性顯示 (Persistence display)。
暫態分析:合成器頻率穩定過程的持續性顯示 (Persistence display)。


平行處理振幅與相位雜訊


同步量測振幅雜訊與相位雜訊

R&S®FSWP 允許在頻率偏移高達 30 MHz 的範圍內,同步量測 (concurrent measurement) 振幅雜訊 (amplitude noise) 與相位雜訊 (phase noise),該機種可在單一視窗或獨立視窗中同時顯示這兩項結果。


振幅與相位雜訊:灰色區域表示透過交互關聯提升的靈敏度;黃色軌跡為 PN(相位雜訊),綠色軌跡為 AM(振幅)雜訊。
振幅與相位雜訊:灰色區域表示透過交互關聯提升的靈敏度;黃色軌跡為 PN(相位雜訊),綠色軌跡為 AM(振幅)雜訊。


艾倫變異數 (Allan Variance)


從近端相位雜訊計算艾倫變異數

為了特性分析振盪器的頻率穩定度,R&S®FSWP 可從相位雜訊計算出艾倫變異數 (Allan variance),並顯示長達 100 萬秒的結果(最小偏移:1 μHz),不同於時域 (time domain) 的量測方法,這種方式能輕易抑制在相位雜訊頻譜中出現如雜散發射 (spurious emissions) 等非預期的副作用,即使是內部訊號源的相位雜訊所引起的短期干擾,也能透過交互關聯輕易地被抑制。


艾倫變異數與相位雜訊:在 0.1 Hz 至 30 MHz 的偏移範圍內,以相位雜訊量測為基礎,計算 33 ns 至 10 s 區間的艾倫變異數。
艾倫變異數與相位雜訊:在 0.1 Hz 至 30 MHz 的偏移範圍內,以相位雜訊量測為基礎,計算 33 ns 至 10 s 區間的艾倫變異數。


可選型號

型號

頻率範圍

相位雜訊

最大分析頻寬

儀器類型

R&S®FSWP8

1 MHz - 8 GHz

< –166 dBc (1 Hz) (f = 1 GHz, 10 kHz 偏移)

320 MHz

相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀

R&S®FSWP26

1 MHz - 26.5 GHz

< –166 dBc (1 Hz) (f = 1 GHz, 10 kHz 偏移)

320 MHz

相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀

R&S®FSWP50

1 MHz - 50 GHz

< –166 dBc (1 Hz) (f = 1 GHz, 10 kHz 偏移)

320 MHz

相位雜訊分析儀與 VCO 測試儀


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產品名稱
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R&S®FSWP 系列相位雜訊與 VCO 測試儀 (1 MHz ~ 56 GHz)
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