
Rohde & Schwarz
R&S®FSWX 系列訊號與頻譜分析儀 (2 Hz ~ 44 GHz)
R&S®FSWX Signal and Spectrum Analyzer (2 Hz to 44 GHz)
Rohde & Schwarz FSWX 訊號與頻譜分析儀配備突破性的雙路徑架構與交叉相關 (Cross-correlation) 偵測技術,將相位雜訊逼近熱雜訊極限。內建高達 8 GHz 分析頻寬與多通道擷取能力,完美支援 6G、高頻雷達、衛星通訊與 Wi-Fi 8 研發
R&S FSWX 訊號與頻譜分析儀
專為次世代通訊與雷達架構師打造之雙通道交叉相關量測平台
R&S FSWX 徹底顛覆傳統超外差接收機架構,針對寬頻訊號處理導入最高單一混頻級與寬頻 A/D 轉換器設計 。系統整合創新雙路徑架構與交叉相關 (Cross-correlation) 運算法,將儀器內部相位雜訊強制壓制至熱雜訊物理極限 ,該能力確保研發端精確測得 6G、高頻雷達與衛星通訊的真實效能,避免測試設備的誤差冗餘吞噬產品良率 (Yield),有效收斂測試節點之資本支出 (CAPEX)。

核心規格
規格數據是評估測試設備投資報酬率的核心基準,FSWX 透過整合多通道、極低相位雜訊與 8 GHz 超大分析頻寬,將多個高階儀器的量測節點收斂至單一設備。
業界首創多通道架構: 支援同頻或異頻之相位同調擷取 (Phase coherent capturing) 。
極低相位雜訊: 1 GHz 載波下,10 kHz 偏移之相位雜訊典型值高達 -139 dBc/Hz (-135 dBc/Hz 保證值) 。
超寬頻寬: 內建高達 8 GHz 之內部 I/Q 解調分析頻寬 。
雙路徑交叉相關偵測器: 消除內部雜訊,顯示平均雜訊位準 (DANL) 極限下探 -174 dBm/Hz 。
預選 (Preselected) I/Q 分析: 創新的濾波器組概念,實現涵蓋整個頻率範圍之影像拒斥 (Image rejection) 。
極致位準精準度: 10 MHz ≤ f ≤ 3.6 GHz 頻段內,總測量不確定度僅 ±0.26 dB 。
多通道訊號分析之架構顯化
從單一節點轉向多維度關聯分析是現代射頻架構的必然趨勢。FSWX 透過多硬體路徑的同步觸發機制,消除了過往需串聯多台頻譜分析儀所引發的觸發抖動 (Jitter) 與時間延遲。這不僅大幅縮減了儀器佔用的物理空間,更在實體層面降低了建置 MIMO 測試台的 CAPEX。
輸入機制與相位同調擷取
在分析陣列天線或多路輸入多路輸出 (MIMO) 系統時,任何微小的相位偏移都會導致波束成形 (Beamforming) 演算法失效。FSWX 的 多通道架構支援從多個射頻輸入端同步捕捉訊號 。此機制允許系統在相同的時域基準上,平行讀取不同天線埠的相位差與權重變化 。
放大器與變頻器之輸入/輸出
傳統評估放大器或上下變頻器 (Up/Downconverters) 效能時,受限於單通道儀器,必須依賴假設輸入訊號為理想狀態。FSWX 可將真實世界環境下的待測物 (DUT) 輸入訊號作為參考基準,並即時與輸出端訊號進行交叉比對 。這種「參考訊號 vs. 響應訊號」的實時關聯演算,提供了精確的增益 (Gain)、線性度與頻率轉換效率評估 ,徹底消除了單點測量所導致的黑箱盲區。

結合交叉相關的創新內部雙路徑架構
追求 EVM 的極限必須突破儀器自身的熱雜訊底噪。FSWX 引入雙路徑架構與獨立雙本地振盪器 (LO) 機制,透過數學交叉相關演算法,將不相關的儀器內部雜訊強制濾除。這項架構決策讓工程師得以測量微弱至物理極限的真實雜訊,不再受限於測試設備的硬體天花板。
透視雙路徑架構
在傳統頻譜分析儀中,追求高靈敏度往往必須犧牲掃描速度,且不可避免地混入儀器內部 ADC 與放大器的雜訊。FSWX 在硬體架構上配置了兩個獨立的射頻路徑與兩組本地振盪器 (LO1 與 LO2) 。當同一訊號同時通過此兩條獨立路徑進入強大的數位後端 (Digital Backend) 時,系統機制會對兩筆數位資料流執行交叉相關 (Cross-correlation) 運算 。
雜訊抑制與 DANL 極限
由於儀器兩條路徑產生的內部雜訊互不相關,在交叉相關運算過程中,這些內部雜訊將趨近於零,而 DUT 真正的輸入訊號與相位雜訊則會被保留與放大。依據演算法邏輯,DANL 的改善幅度為 5 * log(N),其中 N 代表相關或平均的次數。藉由啟用交叉相關偵測器,FSWX 能將底噪推向 -174 dBm/Hz (1 Hz) 的熱雜訊絕對物理極限,並在無需進行雙次掃描浪費時間的條件下,抑制固有的混疊突波。
