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Rohde & Schwarz

R&S®RTA4000 示波器 (4 CH, 200 MHz ~ 1 GHz)

R&S®RTA4000 Oscilloscope (4 CH, 200 MHz ~ 1 GHz)

R&S®RTA4000 示波器搭載 10-bit ADC,提供 4 倍垂直解析度,具備高達 1 Gsample 的深度分段記憶體與 MSO 選配,適用於交換式電源與嵌入式設計分析。

R&S®RTA4000 示波器

10-bit 解析度與超深記憶體,精準捕捉您不容錯過的訊號細節



R&S®RTA4000 具備同級最佳的訊號完整性與反應靈敏的超深記憶體,將 10 的力量(Power of 10)提升至全新境界,其搭載 Rohde & Schwarz 設計的 10-bit ADC(類比數位轉換器),結合領先同級的雜訊表現與記憶體深度,可呈現更清晰的波形與更準確的量測結果,讓使用者在面對未預期的量測挑戰時更具信心。


關鍵特性


  • 頻寬:200 MHz 至 1 GHz

  • 取樣率:高達 5 Gsample/s

  • 記憶體深度:高達 1 Gsample

  • ADC 解析度:10-bit

  • 顯示器:10.1 吋電容式觸控螢幕



特點與優勢



訊號分析:快速獲得結果


即使在大訊號背景下,也能清晰觀測微小訊號細節

R&S®RTA4000 搭載了 Rohde & Schwarz 客製化的 10-bit A/D 轉換器,相較於傳統的 8-bit A/D 轉換器,解析度實現了四倍的提升,更高的解析度能呈現更銳利的波形,捕捉更多以往會被忽略的訊號細節;舉例來說,在進行交換式電源供應器 (switched-mode power supplies) 的特性分析 (characterization) 時,必須在單次擷取過程中,精確判定切換裝置在開啟 (on-times) 與關閉 (off-times) 期間的電壓。


10-bit A/D 轉換器能揭示微小的訊號細節,並確保垂直解析度達到傳統示波器的四倍。
10-bit A/D 轉換器能揭示微小的訊號細節,並確保垂直解析度達到傳統示波器的四倍。


分段記憶體


100 Mpoint 標準記憶體與 200 Mpoint 交錯式記憶體

R&S®RTA4000 具備同級最佳的記憶體深度,每通道可達 100 Mpoints,在交錯模式 (interleaved mode) 下更可達到 200 Mpoint,其深度是同儀器等級示波器的十倍之多;這讓使用者即使在高取樣率條件下,也能擷取更長的訊號序列以進行深入分析,例如在檢視交換式電源供應器中的暫態 (transients) 訊號時。


100 Msample 標準記憶體,使用高達 200 Mpoint 的標準擷取記憶體,長時間擷取並分析脈衝 (pulsed) 和叢發 (burst) 訊號。
100 Msample 標準記憶體,使用高達 200 Mpoint 的標準擷取記憶體,長時間擷取並分析脈衝 (pulsed) 和叢發 (burst) 訊號。


在全頻寬下擷取更長時間


分段記憶體:具備歷史模式功能的 1000 Mpoint

R&S®RTA-K15 選配項目具備深度分段記憶體,可在長時間觀測範圍內分析訊號序列,對於具有通訊間隔的協定 (Protocol) 訊號,例如 I²C 或 SPI,可擷取長達數秒或數分鐘的資料,可變的區段大小 (variable segment sizes) 讓 1000 Mpoint 的記憶體能被最佳化利用;在歷史模式 (history mode) 下,先前在 1000 Mpoint 最大分段記憶體深度中擷取的內容,皆可用於進一步分析。


運用頂級的 1000 Mpoint 記憶體擷取最長的觀測時間。
運用頂級的 1000 Mpoint 記憶體擷取最長的觀測時間。


使用 MSO 選配進行邏輯分析


16 個額外的數位通道

R&S®RTA-B1 選配可將每台 R&S®RTA4000 轉換為具有 16 個額外數位通道的直覺式 MSO(混合訊號示波器),示波器能擷取並分析來自嵌入式設計中類比和數位元件的訊號,並確保彼此同步 (synchronized) 且時間相關 (time correlated)A/D 轉換器輸入與輸出之間的延遲,可透過游標量測輕易地被確定。


四位元 DAC 訊號變化:R&S®RTA4000 擷取並分析彼此同步且時間相關的類比與數位訊號。
四位元 DAC 訊號變化:R&S®RTA4000 擷取並分析彼此同步且時間相關的類比與數位訊號。


波形與碼型產生器


產生類比與數位激勵訊號

R&S®RTA-B6 波形與碼型產生器支援高達 50 Mbit/s 的速率,可用於教育環境和原型硬體 (prototype hardware) 實作,除了常見的正弦波 (sine)方波/脈衝 (square/pulse)斜波 (ramp) 和雜訊 (noise) 波形外,它還能輸出任意波形 (arbitrary waveforms) 和 4-bit 訊號碼型 (signal patterns),波形與碼型可以 CSV 檔案匯入,或從示波器波形中複製,預定義的碼型包含 I2CSPIUART 和 CAN/LIN


波形與碼型產生器:除了常見的正弦波、方波/脈衝、斜波和雜訊波形外,亦可輸出使用者定義的波形與 4-bit 訊號碼型。
波形與碼型產生器:除了常見的正弦波、方波/脈衝、斜波和雜訊波形外,亦可輸出使用者定義的波形與 4-bit 訊號碼型。


數位電壓錶


量測並顯示電位

R&S®RTA4000 每個通道均配備 3 位數電壓錶 (DVM) 和 6 位數頻率計數器,可進行同步量測,標準量測功能包含 DC(直流)AC+DC (RMS)(交流+直流實效值) 和 AC (RMS)(交流實效值)


數位電壓錶:3 位數電壓錶可量測並顯示電路中兩點之間的電位差。
數位電壓錶:3 位數電壓錶可量測並顯示電路中兩點之間的電位差。


頻率分析模式


難以發現的故障通常源於時域 (time) 和頻域 (frequency) 訊號之間的交互作用,R&S®RTA4000 的 FFT(快速傅立葉轉換) 功能僅需按下按鈕、或輸入中心頻率 (center frequency) 和頻寬 (span) 即可啟動,R&S®RTA4000 示波器中的高效能 FFT 功能可用於分析高達 128k 點的訊號,其他實用工具還包含游標量測頻域自動設定 (autoset)


方波的 FFT 分析:高效能的 FFT 功能可分析高達 128k 點的訊號。
方波的 FFT 分析:高效能的 FFT 功能可分析高達 128k 點的訊號。


遮罩測試模式


遮罩 (Mask) 測試可快速揭示特定訊號是否落在定義的容差範圍內,遮罩會透過統計通過/失敗 (pass/fail) 評估來評量待測物 (DUT) 的品質與穩定性,訊號異常和非預期結果能被迅速識別;當違反遮罩時,量測將停止,每次違規都會在 R&S®RTA4000 的 AUX-OUT 連接器上產生一個脈衝輸出,此脈衝輸出可用於觸發量測設定中的特定操作。


包含結果統計的遮罩測試:通過/失敗 (pass/fail) 評估可評量待測物 (DUT) 的品質與穩定性。
包含結果統計的遮罩測試:通過/失敗 (pass/fail) 評估可評量待測物 (DUT) 的品質與穩定性。


電源量測的最佳選擇


以高達 10-bit 的解析度查看電源訊號細節

即使是高動態訊號中最微小的細節,對於電源量測也至關重要,MOSFET 的 RDS (on)(導通電阻) 驗證就是一個例子,R&S®RTA4000 示波器的高 ADC 解析度垂直解析度提升至 10 bits,以往無法看見的訊號細節現在都能被揭露與量測RDS(on) 範例展示了如何在開關閉合時,量測 汲極至源極電壓 (drain-to-source-voltage) 的斜率。


電源分析:分析交換式電源供應器的輸入、輸出與轉移函數。
電源分析:分析交換式電源供應器的輸入、輸出與轉移函數。


可選型號


型號

頻寬

通道數

取樣率

最大記憶體深度

MSO 選配

R&S®RTA4004

200 MHz

4

5 Gsample/s

200 Mpts

16 個數位通道

R&S®RTA4004 + RTA-B243

350 MHz

4

5 Gsample/s

200 Mpts

16 個數位通道

R&S®RTA4004 + RTA-B245

500 MHz

4

5 Gsample/s

200 Mpts

16 個數位通道

R&S®RTA4004 + RTA-B2410

1 GHz

4

5 Gsample/s

200 Mpts

16 個數位通道



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R&S®RTA4000 示波器 (4 CH, 200 MHz ~ 1 GHz)
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