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R&S 嵌入式系統測試解決方案 (EMI、電源、高速數位)

  • 作家相片: Sonya Chan
    Sonya Chan
  • 2月13日
  • 讀畢需時 6 分鐘

嵌入式系統構成了現代電子裝置的核心,範圍涵蓋電源輸入級主控制 PCB馬達馬達控制感測器使用者介面,每個功能區塊都需要全面的測試,以確保最佳效能可靠性以及最終產品的快速上市。憑藉其廣泛的先進測試解決方案組合,Rohde & Schwarz 協助設計工程師應對所有嵌入式系統中的新興挑戰,從能源效率電磁干擾EMI(Electromagnetic Interference))到數位設計連線能力


Rohde & Schwarz 將在德國紐倫堡的 Embedded world 展覽暨研討會上展示其針對嵌入式產業的先進測試與量測解決方案,參觀者可於 2025 年 3 月 11 日至 13 日在紐倫堡展覽中心的 4 號展廳 4-218 攤位找到該 T&M (測試與量測) 專家,該活動為參觀者提供了一個與公司專家交流的機會,並深入了解可用於提升裝置能源效率、在設計過程中加速 EMC (電磁相容性) 合規性、加快數位協定除錯速度,以及滿足無線介面所需監管標準的最新技術。


確保電力電子的能源效率與可靠性


Rohde & Schwarz 將展示其不斷擴展的次世代示波器系列,包括 R&S®MXO 4R&S®MXO 5 以及針對機架安裝優化的 R&S®MXO 5C 系列,參觀者還可以體驗 R&S®ScopeStudio,這是一個將 MXO 功能引入 PC 的新解決方案,使示波器量測視覺化分析共享變得更加容易。結合匹配的高品質主動和被動探棒,速度極快的 MXO 示波器可協助設計工程師提升其電力電子和其他嵌入式系統可靠性


R&S MXO 5 系列示波器 提供 4/8 通道與高達 2 GHz 頻寬;具備 12 位元 ADC、18 位元垂直解析度、500 Mpoints 深度記憶體與每秒超過 450 萬次波形擷取,實現精準量測。
R&S MXO 5 系列示波器 提供 4/8 通道與高達 2 GHz 頻寬;具備 12 位元 ADC、18 位元垂直解析度、500 Mpoints 深度記憶體與每秒超過 450 萬次波形擷取,實現精準量測。

例如,八通道MXO 5 示波器搭配 R&S RT-ZISO 隔離式探棒系統,提供了無與倫比的準確性靈敏度動態範圍頻寬。這些特點使其成為下一代寬能隙WBG (Wide-Bandgap))功率設計的特性分析驗證除錯的首選解決方案;WBG 材料如 SiC (碳化矽) 和 GaN (氮化鎵) 提高了功率設計的效率,但 WBG 半導體快速切換能力必須進行徹底的特性分析


在另一組展示中,MXO 5 示波器將簡化多相降壓轉換器multi-phase buck converter)設計的驗證,確保可靠的結果;高速多相降壓轉換器 SoC (系統單晶片) 為大數據 (big data) 應用和其他需要更低電壓更高電流更快切換時間的應用提供了操作優勢。


電池壽命是電池供電裝置的關鍵規格。參觀者可以使用 R&S®NGU 電源量測單元 (SMU),在電池模擬裝置中即時監控 GPS 如何影響功耗。一種新穎的分析工具有助於開發人員檢查使用 R&S NGU 收集的功耗資料,使他們能夠量測睡眠模式活動模式的所有階段和轉換期間的電流消耗

R&S®NGU 電源量測單元 (SMU) 擁有極高精確度與快速負載回復時間,是電池功耗測試與無線裝置供電的理想方案。其特殊電流錶設計能單次量測 nA 至 A 的電流消耗,並以 2 μs 解析度擷取睡眠至傳輸模式的快速負載變化。具備二或四象限架構,可同時作為電源與負載。
R&S®NGU 電源量測單元 (SMU) 擁有極高精確度與快速負載回復時間,是電池功耗測試與無線裝置供電的理想方案。其特殊電流錶設計能單次量測 nA 至 A 的電流消耗,並以 2 μs 解析度擷取睡眠至傳輸模式的快速負載變化。具備二或四象限架構,可同時作為電源與負載。

R&S®NGU 電源量測單元 產品型錄下載 >


除錯電磁輻射與 EMI 合規性測試


每個電子控制器都可能受到傳導或輻射電磁輻射的影響,早期除錯有助於隔離和修正 EMI 問題並加速產品上市時間,作為 EMC 測試領域的領導者,Rohde & Schwarz 將展示將 EMI 測試整合到產品設計流程中的解決方案,參觀者可以了解如何使用 R&S®RTO6 示波器進行 EMI 除錯,或使用 R&S®EPL EMI 測試接收器進行傳導 EMI 量測R&S EPL1000 可提供高達 30 MHz 的快速、準確且可靠的 EMI 預合規性合規性量測,它在完整的 CISPR 16-1-1 合規性接收器等級中,為裝置開發商和一致性測試實驗室提供了具競爭力的價格。


R&S®RTO6 示波器 具備 6 GHz 頻寬、100 萬次/秒更新率及 9.4 ENOB,提供 16-bit 解析度與 2 Gpoints 深度記憶體,能快速找出訊號異常並深入分析。
R&S®RTO6 示波器 具備 6 GHz 頻寬、100 萬次/秒更新率及 9.4 ENOB,提供 16-bit 解析度與 2 Gpoints 深度記憶體,能快速找出訊號異常並深入分析。

驗證高速數位設計中的訊號完整性


高速數位介面是電子設計不可或缺的一部分,不斷增加的資料速率整合密度IC電路板系統層級帶來了新挑戰,展會參觀者可以在 Rohde & Schwarz 攤位上了解到用於高速介面PCB 和互連系統驗證除錯合規性測試的強大工具,現場演示將展示用於 DDR5 系統設計車用乙太網路 MGBase-T1 裝置的強大驗證和除錯工具,兩者均使用 R&S®RTP 示波器


R&S®RTP 高效能示波器 提供高達 16 GHz 頻寬與 40 Gsample/s 取樣率,結合即時解嵌技術與每秒 750,000 次波形擷取率,實現最精準的訊號完整性量測。
R&S®RTP 高效能示波器 提供高達 16 GHz 頻寬與 40 Gsample/s 取樣率,結合即時解嵌技術與每秒 750,000 次波形擷取率,實現最精準的訊號完整性量測。

Rohde & Schwarz 將在 embedded world 首次推出新款 R&S ZNB3000 向量網路分析儀,這款新推出的向量網路分析儀重新定義了速度精度多功能性的標準,憑藉其業界領先的動態範圍快速的量測速度可擴展的升級,它非常適合要求最嚴苛的應用,例如資料傳輸訊號完整性應用。參觀者可以體驗該儀器的先進去嵌入 (de-embedding) 技術,該技術可實現精確高效的 S 參數量測。這些技術有助於以使用者友善的方式對測試治具進行特性分析、提取 S 參數並對測試治具進行去嵌入


R&S®ZNB3000 向量網路分析儀 提供 9 kHz 至 54 GHz 的頻率範圍與高達 150 dB 的動態範圍,以 11.8 ms 的超快掃描速度,為高產量 RF 元件生產線提供卓越的量測精度與產量。
R&S®ZNB3000 向量網路分析儀 提供 9 kHz 至 54 GHz 的頻率範圍與高達 150 dB 的動態範圍,以 11.8 ms 的超快掃描速度,為高產量 RF 元件生產線提供卓越的量測精度與產量。

藍牙與無線連線能力測試


藍牙 (Bluetooth®) 是短距離低功耗無線通訊的領先技術,Rohde & Schwarz 憑藉 CMW 平台,提供了經藍牙技術聯盟Bluetooth® SIG)批准的全面、全自動化測試解決方案,用於驗證新藍牙低功G耗Bluetooth® Low Energy (LE))和經典藍牙Bluetooth® Classic)的實體層功能


將在 Embedded world 展示的 R&S®CMW270 無線連線能力測試平台,將驗證新的 LE 特點 藍牙頻道探測Bluetooth® Channel Sounding (CS)),該功能透過高精度距離量測增強了裝置的定位能力


R&S®CMW270 是測試筆記型電腦、小筆電、遊戲機、資料卡、無線耳機與其他物聯網(IoT)產品中整合式無線通訊裝置的理想選擇;該測試儀為 WLAN 和 Bluetooth® 提供網路模擬(信令模式 (signaling mode)),並為 WLAN、Bluetooth®、GNSS(全球導航衛星系統)和廣播技術標準提供產生器與分析儀功能。 產品型錄下載 >
R&S®CMW270 是測試筆記型電腦、小筆電、遊戲機、資料卡、無線耳機與其他物聯網IoT)產品中整合式無線通訊裝置的理想選擇;該測試儀為 WLAN 和 Bluetooth® 提供網路模擬信令模式 (signaling mode)),並為 WLANBluetooth®GNSS(全球導航衛星系統)和廣播技術標準提供產生器分析儀功能 產品型錄下載 >

其重點在實現極高資料傳輸量的下一代 WLAN 技術,將更強大、更高效且更複雜,具前瞻性的 CMP180 無線通訊測試儀是在研發生產期間對 NR FR1UWB (超寬頻)、Wi-Fi 7 和首批 Wi-Fi 8 裝置執行典型量測的理想選擇,將在 Embedded world 展示的該非信令測試儀的新特點將包括專注於生產的 Wi-Fi 8 和 UWB 量測


R&S CMP180 是一款具前瞻性的非信令測試儀,適用於 R&D 與生產,支援 Wi-Fi 6E/7/8 與 5G NR FR1;提供 2xVSA/VSG 與 2x8 RF 埠,可平行量測。產品型錄下載 >
R&S CMP180 是一款具前瞻性的非信令測試儀,適用於 R&D 與生產,支援 Wi-Fi 6E/7/8 與 5G NR FR1;提供 2xVSA/VSG 與 2x8 RF 埠,可平行量測。產品型錄下載 >

這些以及其他為嵌入式產業量身打造的測試解決方案,都可於 2025 年 3 月 11 日至 13 日在德國紐倫堡 Embedded world 展覽暨研討會4 號展廳 4-218 攤位 Rohde & Schwarz 攤位上找到。

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