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駕馭高速記憶體世代：DDR5 與 LPDDR5 介面訊號完整性與自動化相容性測試完全解析
深入解析 DDR5 與 LPDDR5 高速記憶體介面的測試挑戰。本文涵蓋 JEDEC 標準合規性測試、讀寫分離除錯技術、眼圖分析及去嵌原理。了解如何利用 R&S®RTP 系列示波器與 ScopeSuite 軟體，克服訊號完整性瓶頸，加速產品開發認證流程。
1月21日讀畢需時 8 分鐘
駕馭 8K 影像世代：DisplayPort 2.1 (HBRx) 與 eDP 2.0 發送端一致性測試的完整技術指南
深入解析 DisplayPort 2.1 與 eDP 2.0 發送端一致性測試技術。探討 VESA CTS 規範、眼圖與抖動分析，並介紹如何利用 R&S®RTP 示波器的硬體 CDR 與自動化軟體 R&S ScopeSuite 加速驗證流程。
1月19日讀畢需時 9 分鐘
USB 3.2 測試：從發射器到接收器的自動化驗證與訊號完整性除錯全解析
深入解析 USB 3.2 Gen 1/Gen 2 測試挑戰，涵蓋 TX/RX 合規性驗證、訊號完整性除錯及自動化測試流程。了解如何利用 Rohde & Schwarz 高效能示波器與硬體 CDR 技術，精準解決抖動與雜訊問題，加速產品上市。
1月13日讀畢需時 7 分鐘
邁向 8K 視界：全面解析 HDMI 2.1 TMDS 發射器相容性測試與訊號完整性挑戰
深入解析 HDMI 2.1 TMDS 與 HDMI 1.4b 發射器(TX)相容性測試流程。探討如何利用 R&S ScopeSuite 自動化軟體與高效能數位示波器進行眼圖分析、時鐘抖動除錯及硬體 CDR 應用，確保高速影音傳輸訊號完整性。
1月12日讀畢需時 7 分鐘
揭秘電源完整性 (PI) 與 EMI 除錯：為何 12-bit 示波器是關鍵？
深入了解為何 GaN/SiC 時代，傳統 8-bit 示波器已不敷使用。本文解析新一代 12-bit 高解析度示波器如何解決電動車、AI 伺服器的電源完整性 (PI) 與 EMI 雜訊挑戰。
2025年11月2日讀畢需時 8 分鐘
R&S 推出 MXO 3 小型化示波器：4/8 通道、12 位元解析度與 450 萬次/秒擷取率
探索 Rohde & Schwarz MXO 3 小型示波器。提供 4 或 8 通道、12 位元硬體解析度與 99% 即時捕獲率，以實惠價格實現高階 MXO 技術。
2025年10月21日讀畢需時 4 分鐘
如何透過優化探棒接地，精確量測 PCIe/USB 高速介面的差動訊號與共模雜訊
高速差動訊號量測易受共模雜訊干擾。本文探討探棒接地對 CMRR 與 TIE 抖動的關鍵影響，並展示 R&S®RT-ZM 探棒如何優化 USB 3.1 訊號完整性。
2025年10月19日讀畢需時 6 分鐘
自動化車用 GNSS 效能測試：完全符合 GB/T 45086.1-2024 最新標準
透過 R&S®SMBV100B 與 R&S®CMWrun，自動執行中國 GB/T 45086.1-2024 車用 GNSS 效能測試。此方案提供可重複的 TTFF、定位準確度與靈敏度測試。
2025年10月19日讀畢需時 6 分鐘
從電源、邏輯到高速介面：一份關於示波器進階觸發應用的實用指南
深入了解示波器的邊緣觸發之外的強大功能。本文介紹寬度、矮波、碼型、建立/維持時間等特殊觸發，助您精準鎖定並解決複雜的電路問題。
2025年10月5日讀畢需時 7 分鐘
飛秒 (fs) 等級的同步：精準實現示波器的多通道相位同調
了解如何使用 R&S RTO-B7/RTP-B7 脈衝源，對 R&S 示波器進行精準的通道間歪斜校正 (Deskew)，將殘餘歪斜降至 1 ps 以下，以滿足 MIMO、雷達與高速介面等應用的相位同調需求。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
駕馭高速 SoC 的供電挑戰：多相降壓轉換器的深入分析
了解多相降壓轉換器的挑戰與驗證方法。探索如何使用 R&S MXO 5 八通道示波器進行功率轉換效率、電源完整性與相位分析，以優化高速 SoC 的電源設計。
2025年10月5日讀畢需時 5 分鐘
DDR3, DDR4, DDR5 高效眼圖測試：讀/寫分離與訊號完整性分析
了解 DDR 記憶體眼圖測試的關鍵—讀/寫分離。探索如何使用 R&S 示波器軟體，僅憑 DQ/DQS 訊號即可建立清晰的讀/寫眼圖，並進行遮罩測試以快速除錯。
2025年10月5日讀畢需時 5 分鐘
使用示波器與自製 LISN 進行電源供應器的 EMI 傳導輻射預測試
了解如何透過自製的 DC-LISN 搭配 R&S 示波器的 FFT 功能，在早期研發階段對 DC-DC 電源供應器進行低成本的傳導輻射 EMI 除錯，避免後期昂貴的重新設計。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
您的 RMS 讀值可信嗎？深入解析示波器上的三種 RMS 量測方法
了解 R&S RTM 示波器上三種 RMS 量測方法的差異與精度。從標準自動量測、RTM-K32 DVM 選項到高精度 ProbeMeter，選擇最適合您應用的 RMS 分析方式。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
駕馭寬能隙半導體的 EMI 挑戰：從源頭進行設計優化
了解如何使用 R&S 示波器的閘控 FFT 功能與近場探棒，對 SiC/GaN 等寬能隙元件進行 EMI 除錯，透過時頻關聯分析，從源頭優化閘極驅動並降低電磁輻射。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
精準驗證電源緩啟動：避免災難性的啟動失敗
了解如何使用 R&S RTM3000/RTA4000 示波器的 PWM 趨勢圖分析功能，逐週期驗證交換式電源供應器的緩啟動行為，避免過衝與元件應力，並在連接功率級前完成演算法除錯。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
深入解析電驅系統效能：從三相功率到 SiC 切換的優化之道
了解如何使用 R&S MXO 5 八通道、18-bit HD 示波器進行電動車驅動系統分析，涵蓋三相逆變器效率、功率因數、諧波失真與 SiC/IGBT 切換問題除錯。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
抖動分析的全貌：為何您需要結合時域與頻域的量測觀點
比較 R&S®RTO 示波器與 R&S®FSWP 相位雜訊分析儀，深入解析各自在抖動量測中的獨特角色與優勢
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
DDR 記憶體電源完整性驗證：使用 R&S 探棒與示波器進行漣波與雜訊量測
了解 DDR4/DDR3 電源軌的嚴格漣波與雜訊容差。探索如何使用 R&S RT-ZPR20 電源軌探棒與示波器，精準量測 DDR 記憶體電源完整性，避免抖動問題。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
R&S RT-ZVC 高動態範圍電流量測：分析 IoT 裝置的 μA 級睡眠電流
了解如何使用 R&S RT-ZVC 多通道電源探棒，搭配 R&S 示波器，對 IoT 裝置進行從 nA、μA 到 A 等級的寬動態範圍電流量測，精準分析電池續航力。
2025年10月5日讀畢需時 4 分鐘
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