R&S 於 PCIM 2025 展示 GaN/SiC 寬能隙半導體測試解決方案

Rohde & Schwarz 將在德國紐倫堡舉行的 PCIM Expo 2025 上，展示其用於測試和分析電力電子系統與元件的最新解決方案和先進技術，在該公司的攤位（7 號展廳，166 號攤位），焦點將集中在利用該公司頂尖測試儀器來應對下一代寬能隙半導體（如 GaN (氮化鎵) 和 SiC (碳化矽)）除錯挑戰的解決方案。

R&S RT-ZISO 隔離式探棒系統將成為 PCIM Expo 2025 的展會焦點

嚴謹的測試和先進的特性分析方法，可協助設計工程師提升其採用 SiC 和 GaN 元件的電力電子設計的效能、效率和可靠性，這些設計被應用於電動交通（e-mobility）、再生能源或 AI 資料中心等尖端產業，Rohde & Schwarz 將攜其精選的綜合 T&M (測試與量測) 產品組合亮相 PCIM Expo 2025，該展會將於 5 月 6 日至 8 日在紐倫堡展覽中心舉行（7 號展廳，166 號攤位）。這些測試解決方案專為那些重視高效率、快速切換速度、更高功率密度和高溫操作的電力電子應用而量身打造。

寬能隙分析

Rohde & Schwarz 的 R&S RT-ZISO 隔離式探棒系統將是所展示裝置的核心，這款次世代隔離探棒為採用 SiC 和 GaN 的寬能隙（WBG (Wide Bandgap)）功率設計，在準確性、靈敏度、動態範圍和頻寬方面樹立了新標準，Rohde & Schwarz 將透過一個研究 GaN-MosFET 切換行為的裝置，展示該隔離探棒系統相較於單端探棒的優勢。

雙脈衝測試

雙脈衝測試是一種評估 SiC 和 GaN 功率元件切換效能的方法，Rohde & Schwarz 正與 PE-Systems GmbH 合作，提供一種穩定且準確的雙脈衝測試方案，該方案使用 Rohde & Schwarz 具備八個通道的次世代示波器 R&S®MXO 5，並結合 R&S RT-ZISO；在 PCIM 展會上，參觀者可以體驗對 Wolfspeed 公司的 1200 V SiC 元件進行準確、可靠且快速的雙脈衝測試，這些元件通常用於汽車產業的牽引逆變器 (traction inverters)。

R&S MXO 5 系列示波器 提供 4/8 通道與高達 2 GHz 頻寬；具備 12 位元 ADC、18 位元垂直解析度、500 Mpoints 深度記憶體與每秒超過 450 萬次波形擷取，實現精準量測。

自動化負載跳變測試

負載跳變測試 (Loadjump testing) 過去是一個耗時的手動過程，用於在不同的輸入電壓位準下驗證降壓轉換器（Buck converter）的負載步階響應，且通常僅使用少數參考點，針對此應用，Rohde & Schwarz 同樣與提供測試自動化軟體的 PE-Systems GmbH 合作，該解決方案結合了 MXO 5 示波器和 R&S RT-ZISO 隔離式探棒系統，不僅縮短了整體測試時間，還能在相同時間內維持相同的測試點數量。

在 PCIM 展會上，兩家公司將展示對 Monolithic Power Systems, Inc. (MPS) 的降壓轉換器在 6 V 至 60 V 電壓範圍內進行自動化負載跳變測試，該裝置甚至允許在相同的時間範圍內設定更多的參考點，並可擴展至包含溫度控制，從而實現輸入電壓、負載電流和溫度曲線變化的完全自動化。

元件特性分析

Rohde & Schwarz 也將展示其用於元件特性分析的解決方案，具備客製化阻抗量測功能的 R&S®LCX LCR 測試儀，適用於所有高達 10 MHz 的離散被動元件，使用者可以透過 R&S LCX 輕鬆地分析功率轉換器核心元件（如 MLCC (多層陶瓷電容器)）中電容的電壓依賴性。結合掃描軟體工具，使用者可以執行全面的掃描量測，並將其顯示在眾多圖表中。

R&S®LCX LCR 測試儀用途廣泛、極為準確且能快速執行量測，它們是研究、開發和生產中高挑戰性應用的理想選擇。透過兩種儀器型號和多樣化的選配項目，該系列可涵蓋測試訊號頻率高達 10 MHz 的應用。此外，內部和外部偏壓功能、全面的分析選項以及多功能的測試治具，進一步擴展了其廣泛的潛在應用範圍。

R&S®LCX LCR 測試儀 型錄下載 >

來自 Zurich Instruments AG（自 2021 年起成為 R&S 子公司）的 MFIA 阻抗分析儀能夠對低阻抗元件（如分流電阻和 DC 鏈路電容器）以及高阻抗系統進行阻抗光譜分析 (impedance spectroscopy)，它提供了跨頻率和時間的阻抗分析量測模式，以及其他特點，例如整合的示波器和頻譜分析儀功能。

Rohde & Schwarz 工業、元件、研究與大學市場部副總裁 Dr. Philipp Weigell 解釋：「PCIM Expo 是我們展示在寬能隙半導體測試領域最新進展的重要場合，測試對於提升功率效率、縮小尺寸以及在 AI 資料中心等採用的功率轉換應用中更有效地管理散熱，扮演著關鍵角色，透過與產業專家的合作以及我們先進的測試解決方案，我們使客戶能夠開發出可靠且高效的系統，以滿足現代資料處理應用的嚴苛需求。」

Rohde & Schwarz 將於 5 月 6 日至 8 日，在紐倫堡展覽中心 7 號展廳 166 號攤位，展示上述以及其他先進的測試解決方案。