top of page

新聞中心
搜尋


示波器序列通訊協定除錯
深入了解 UART、I2C、(Q)SPI 與 CAN 匯流排等序列通訊協定,並學習如何使用示波器進行除錯。本文提供實用技巧與專業洞見,包含硬體觸發與軟體解碼的差異,助您掌握協定除錯的基礎知識。
9月7日讀畢需時 7 分鐘


R&S RT-ZISO 隔離式探棒:高壓高速切換訊號精密量測解決方案
R&S RT-ZISO 隔離式探棒系統,專為高壓與高速切換訊號設計,提供高達 ±60 kV 共模範圍,頻寬達 1 GHz,具備卓越 CMRR,確保量測準確度。
9月7日讀畢需時 2 分鐘


準確驗證輔助偏壓電源啟動順序
了解如何使用 Rohde & Schwarz MXO 5 系列示波器,透過大記憶體與高解析度,準確驗證離線式 AC/DC 轉換器漫長的啟動順序,捕捉關鍵訊號與時序細節。
9月7日讀畢需時 4 分鐘


偵測混合訊號電源設計中的偶發性頻譜異常
了解如何使用 R&S®MXO 5 示波器的高速 FFT 功能,有效地偵測與隔離混合訊號電源設計中由匯流排通訊引起的偶發傳導放射雜訊,解決複雜的 EMI 偵錯挑戰。
9月7日讀畢需時 4 分鐘


透過負載瞬變響應測試強化迴路穩定性分析
R&S®MXO 5 示波器具備大記憶體與軌跡功能,適用於驗證具備 PWM 控制的電源轉換器負載瞬變響應,可深入分析並揭示系統運作細節。
9月7日讀畢需時 4 分鐘


R&S®MXO 5 示波器:複雜觸發技術,精準偵測電源轉換器控制迴路異常
R&S®MXO 5 示波器採用數位觸發技術,可精準偵測電源轉換器在緩啟動與線路前饋控制中的異常現象;透過複雜觸發功能,有效率地隔離與找出不穩定運作的根本原因,確保系統穩定。
9月7日讀畢需時 4 分鐘




使用 MXO 示波器搭配快速 FFT 進行 EMI 除錯
了解 MXO 示波器如何透過硬體加速的超高速 FFT,協助您進行 EMI 除錯,其高靈敏度與直覺介面,能精確定位與分析雜訊來源。
9月7日讀畢需時 5 分鐘


MXO 示波器:精準分析電動車三相傳動系統效率與 SiC 交換暫態
運用 R&S MXO 示波器進行電動傳動系統最佳化。藉由 18 位元高解析度、每秒 450 萬次波形擷取率與八通道能力,深入分析三相變頻器效率、諧波失真,並對 SiC 閘極驅動的暫態響應與 shoot-through 事件進行精準除錯。
9月7日讀畢需時 7 分鐘


R&S MXO 系列示波器:實現精準的電源時序與漣波雜訊分析
深入探討使用 R&S® MXO 示波器進行電源完整性分析。本技術報告涵蓋多通道電源時序、低電壓漣波量測、18-bit HD 解析度、500 Mpoints 深度記憶體,以及用於 EMI 除錯的超高速 FFT 技術。
9月7日讀畢需時 12 分鐘


善用硬體觸發輸出,大幅縮短自動化測試設備 (ATE) 測試時間
了解如何運用 Rohde & Schwarz MXO 示波器的「等待觸發」硬體訊號,取代傳統軟體輪詢,實現 ATE 儀器間的零延遲同步,本文詳述如何透過硬體觸發,有效縮短測試時間、簡化程式設計並提升產線產量。
9月7日讀畢需時 5 分鐘


示波器有效位元數 (ENOB) 深度解析
本文深入探討示波器有效位元數 (ENOB) 的量測挑戰與數據解讀,了解為何訊號源純度與儀器設定至關重要,並查看 R&S® MXO 系列在真實測試條件下的卓越 ENOB 表現。
9月7日讀畢需時 9 分鐘


分析多相式降壓轉換器:高速 SoC 電源完整性量測
了解如何運用 R&S MXO 5 系列示波器,針對採用多相式降壓轉換器的高速 SoC 進行電源完整性分析,精準量測電源軌的雜訊、漣波與暫態響應,應對嚴苛的動態負載挑戰。
9月7日讀畢需時 6 分鐘


示波器探棒終極指南:探棒補償、接地、阻抗匹配與差動量測實戰技巧
精通示波器探棒操作的八大關鍵,本文深入探討被動探棒補償、接地策略、阻抗選擇、電流探棒消磁,以及主動與差動探棒於高頻和浮動量測的應用,確保您的量測精準無誤。
8月31日讀畢需時 9 分鐘


串列協定解碼基礎:示波器於並列與串列傳輸的分析應用
深入了解數位資料傳輸中並列與串列協定的差異。本文解析 UART、I²C、SPI 及 CAN 等協定的電位準位、時序與訊框特性,並說明如何運用現代示波器進行高效的訊號分析與解碼。
8月31日讀畢需時 5 分鐘


R&S EMC 測試解決方案:適用於 CISPR、EMI/EMS 與高功率 RF 測試的儀器
Rohde & Schwarz 於 EMC Europe 2025 展示全方位 EMC 測試方案。涵蓋 R&S ESW、EPL1007 EMI 接收器、BBA 放大器與 R&S ELEKTRA 自動化軟體。
8月25日讀畢需時 4 分鐘


R&S RTP 示波器:USB-IF 官方認證之 USB 3.2 Gen 1 & Gen 2 Tx/Rx 相容性測試解決方案
Rohde & Schwarz 的 USB 3.2 Gen 1 & Gen 2 Tx/Rx 相容性測試解決方案已獲 USB-IF 官方認證,此方案採用 R&S RTP 示波器與 ScopeSuite 軟體,確保精準可靠的認證測試結果。
7月27日讀畢需時 2 分鐘


R&S MXO 示波器支援 ADI 10BASE-T1S E2B™ 解決方案的觸發與解碼
Rohde & Schwarz 透過 R&S MXO 示波器提供 10BASE-T1S 合規性測試與解碼方案。此方案協助 ADI 驗證其 E2B™ 邊緣節點技術,加速 SDV 區域架構發展。
4月30日讀畢需時 3 分鐘


R&S 於 PCIM 2025 展示 GaN/SiC 寬能隙半導體測試解決方案
Rohde & Schwarz 於 PCIM 2025 展出 R&S RT-ZISO 隔離探棒與 R&S MXO 5 示波器,提供 GaN 和 SiC 元件的雙脈衝測試、自動化負載跳變測試與特性分析方案。
4月29日讀畢需時 4 分鐘
標籤雲
訂閱最新消息,掌握產業脈動
我們將不定期為您精選最新的產業新聞、深入的技術文章、專業白皮書,以及重要的產品更新資訊。歡迎立即訂閱,與產業趨勢同步,不錯過任何關鍵要聞。
宥億企業不僅是儀器供應商,更是您在研發與創新路上的專業夥伴,我們將持續以豐富的產業經 驗與熱忱的服務精神,為您提供最完善的解決方案。
bottom of page

